Abelès F.

Abeles F.

Abelès 〈eblès〉 F. [OTT] Condizione di A.: per incidenza a 45° su superfici dielettriche o metalliche, detti rp e rs i coefficienti di riflessione d'ampiezza per onde polarizzate parallelamente (p) e ortogonalmente (s) alla superficie, vale la relazione: rs2=rp; nelle stesse condizioni di incidenza, dette φs e φp le variazioni delle fasi per riflessione per le due componenti, si ha: 2φs=φp. ◆ [OTT] Metodo riflettometrico di A.: procedimento proposto nel 1963 da A. per il calcolo dei coefficienti di riflessione d'ampiezza di onde polarizzate s e p (v. sopra) da parte di materiali assorbenti. Considerando la riflessione a un angolo α sulla superficie di un mezzo di indice di rifrazione complesso n₁=n₁-ik₁, dove n₁ è l'indice di rifrazione di fase, k₁ il termine d'assorbimento e i l'unità immaginaria, in contatto con un mezzo trasparente di indice n₀, per i coefficienti di riflessione si ha: rs=(n₀-n₁)/(n₀+n₁), rp=(n₁-n₀)/(n₁+n₀), con n₀=n₀cosα, n₀=n₀/cosα, n₁=a-ib, n₁=c-id; a2-b2=n₁2-k₁2-n₀2 sinα, ab=n₁k₁, c=a[1+n₀2 sin2α/(a2+b2)], d=b[1-n₀2 sin2α/(a2+b2)]. ◆ [OTT] Metodo rifrattometrico di A.: tecnica per determinare l'indice di rifrazione di film sottili non assorbenti depositati su substrati dielettrici, basato sul fatto che in condizioni d'incidenza brewsteriana per il materiale costituente il film, per una luce polarizzata linearmente e parallelamente al piano d'incidenza risultano uguali l'intensità del raggio riflesso dal film e quella del raggio riflesso dal solo substrato.