diffrazione di elettroni
Fenomeno diffrattivo che coinvolge particelle materiali come gli elettroni durante lo scattering elastico su materiali cristallini e che ha permesso la verifica della teoria della dualità onda-particella. Poiché la lunghezza d’onda degli elettroni varia da qualche decimo di nanometro (a 10 eV) a qualche picometro (a 100 keV), essa risulta confrontabile con le distanze interatomiche nei solidi. La diffrazione di elettroni fu osservata per la prima volta nel 1927 da Clinton Davisson e Lester Germer durante lo scattering di elettroni lenti su cristalli di nichel e da Gorge T. Thomson durante lo scattering di elettroni di media velocità (50 keV) su superfici microcristalline. Tramite i loro esperimenti è stato possibile verificare l’ipotesi del dualismo onda-particella. Tuttavia i metodi di diffrazione hanno avuto successo non prima degli anni Sessanta, quando è stata inventata la tecnologia UHV (Ultra high vacuum). La diffrazione di elettroni rappresenta una base per differenti metodi di investigazione di materiali solidi e gassosi. Si distinguono oggi diverse tipologie di diffrazione in base all’energia degli elettroni. Quelli con energie tra i 10 e i 1000 eV sono usati nella diffrazione di elettroni a bassa energia (LEED, Low-energy electrons diffraction), tecnica impiegata per studi strutturali di superfici a cristallo singolo. Dagli anni Settanta a oggi sono stati effettuati numerosi studi con la tecnica LEED-Auger sulla struttura di una grande varietà di superfici a cristallo singolo e sulle fasi bidimensionali di atomi e molecole adsorbiti su esse. Elettroni con energie tra 5 e 50 keV sono usati nella diffrazione per riflessione di elettroni di alta energia (RHEED, Reflection high-energy electron diffraction), una tecnica impiegata nel controllo della crescita epitassiale di strati di materiale cristallino. A più alte energie (da 20 keV a 1 MeV) gli elettroni sono impiegati nella diffrazione per trasmissione di elettroni di alta energia (THEED, Transmission high-energy electron diffraction), impiegata in congiunzione con i microscopi TEM.