AFM (Atomic force microscope)
Mauro Cappelli
Una variante dell’STM (Scanning tunneling microscope), proposta nel 1986 da Gerd Binning, Calvin F. Quate e Christoph Gerber. L’AFM è in grado di misurare [...] in particolari condizioni ambientali (modalità a contatto dinamico o intermittente). Rispetto al microscopioelettronico l’AFM ha il vantaggio di fornire un reale profilo tridimensionale della superficie scansionata e di poter essere impiegato in ...
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microscopio
microscòpio s. m. [comp. di micro- e -scopio, termine coniato (sull’analogia di telescopio) dallo scienziato e accademico linceo J. Faber, nel 1625, per designare lo strumento inventato da Galileo e da lui chiamato occhialino]....
scansione
scansióne s. f. [dal lat. scansio -onis, propr. «salita, ascesa» e «sollevamento di un piede, innalzamento della voce» (come avviene nelle arsi di un verso), der. di scanděre «scandire», propr. «salire, ascendere», part. pass. scansus]....