SNOM
〈∫nòm〉 s. f. – Sigla dell’ingl. Scanning Near-field Optical Microscopy, che indica una tecnica microscopica a scansione nel visibile basata sull’illuminazione di una porzione dell’oggetto di dimensioni lineari anche dieci volte inferiori alla lunghezza d’onda della luce impiegata. Il campione viene illuminato per mezzo di una sonda costituita da una sottilissima punta conica trasparente posta a brevissima distanza, rivestita con un film metallico che lascia libera per la fuoriuscita della luce un’apertura di circa 50 nm.