interferometria
Parte dell’ottica fisica che si occupa dello studio dei fenomeni interferenziali della luce e delle loro applicazioni a scopo sia scientifico sia applicativo. I metodi interferometrici hanno grande importanza per la misurazione molto accurata di lunghezze: in particolare, grazie a misurazioni interferometriche è stato possibile fissare a più riprese (nel 1927, 1960, 1983), la lunghezza del metro campione. Altri impieghi rilevanti sono la misura di indici di rifrazione, le determinazioni spettrometriche e l’applicazione che di essi si fa in astronomia per la realizzazione di filtri estremamente selettivi e per la misurazione del diametro di oggetti celesti (in tal caso lo strumento è detto interferometro stellare). L’interferometria trova pure applicazioni in biologia e in medicina nello studio delle proteine, soprattutto per esaminare la loro sedimentazione durante l’ultracentrifugazione e per controllare il processo di elettroforesi. Nel campo tecnico, fenomeni interferenziali sono sfruttati per controllare lo stigmatismo di sistemi ottici e la regolarità di superfici, in particolare di superfici ottiche. La verifica dello stigmatismo si effettua per es. nel modo seguente: posto in prossimità del sistema in esame (per es., una lente b), uno schermo c con due fori d ed e, una sorgente puntiforme a dà luogo su uno schermo f non più a un’immagine puntiforme a′ ma a un sistema di frange d’interferenza: se la lente è stigmatica, il centro di questo sistema cade sempre in a′, qualunque sia rispetto a b la posizione di d ed e; se la lente non è stigmatica, la frangia centrale si sposta quando, tenendo fisso d, si sposta e. La regolarità di una superficie ottica si controlla invece portando a contatto con la superficie in esame una superficie campione di vetro con curvatura complementare a quella della prima, perfettamente levigata, ed esaminando l’andamento delle frange d’interferenza che si formano tra le due superfici. Dall’esame di eventuali irregolarità di queste frange si riescono a localizzare imperfezioni della superficie in esame e quindi a valutarne l’entità (si parla allora di lavorazione ottica a frangia). (*)